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產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 | 
Huace HT-11高低溫真空探針臺(tái)
華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)
華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)特點(diǎn)/應(yīng)用
◆ 2至6英寸樣品臺(tái)
◆ 高真空腔體
◆ 防輻射屏設(shè)計(jì),樣品溫度均勻性更好
◆ 77K-675K高低溫環(huán)境
◆ 兼容IV/CV/RF測(cè)試
◆ 外置多探針臂,移動(dòng)行程大
◆ 經(jīng)濟(jì)實(shí)用,可無(wú)縫升級(jí)
華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)極低溫測(cè)試:
因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測(cè)試時(shí),空氣中的水汽會(huì)凝結(jié)在晶圓上,會(huì)導(dǎo)致漏電過(guò)大或者探針無(wú)法接觸電極而使測(cè)試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測(cè)試前用泵抽走,并且保持整個(gè)測(cè)試過(guò)程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。
高溫?zé)o氧化測(cè)試:
當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí),氧化現(xiàn)象會(huì)越來(lái)越明顯,并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過(guò)度氧化會(huì)導(dǎo)致晶圓電性誤差,物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測(cè)試前用泵抽走,并且保持整個(gè)測(cè)試過(guò)程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。
晶圓測(cè)試過(guò)程中溫度在低溫和高溫中變換,因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象,定位好的探針與器件電極間會(huì)有相對(duì)位移,這時(shí)需要針座的重新定位,針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動(dòng)化針座來(lái)調(diào)整探針的位置。
華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)技術(shù)參數(shù):
腔體規(guī)格  | |
樣品臺(tái)尺寸  | 2英寸/4英寸/6英寸  | 
樣品固定  | 彈簧壓片  | 
觀察窗口  | 2英寸/4英寸/6英寸  | 
真空度  | 10-6torr  | 
探針臂接口  | 4~6個(gè)探針臂接口  | 
其他接口  | 電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口  | 
制冷方式  | 液氮/液氦/制冷機(jī)  | 
溫度范圍  | 77K到573K/4.5K到573K  | 
溫控精度  | 0.1K/0.01K/0.001K  | 
穩(wěn)定性  | ±1K/±0.1K/±0.01K外形  | 
外形  | 880mm長(zhǎng)*880mm寬*600mm高/980mm長(zhǎng)*980mm寬*600mm高  | 
重量  | 約20KG/30KG  | 
光學(xué)系統(tǒng)  | |
顯微鏡類(lèi)型  | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡  | 
放大倍率  | 16X-200X/20X-4000X  | 
移動(dòng)行程  | 水平360度旋轉(zhuǎn),Z軸行程50.8mm  | 
光源  | 外置LED環(huán)形光源/同軸光源  | 
CCD  | 200萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素/1200萬(wàn)像素  | 
探針臂  | |
X-Y-Z移動(dòng)行程  | 50mm*50mm*50mm  | 
結(jié)構(gòu)  | 外置探針臂,真空波紋管結(jié)構(gòu)  | 
移動(dòng)精度  | 10微米/1微米  | 
線纜  | 同軸線/三軸線/射頻線  | 
漏電精度  | 10pA/100fA/10fA  | 
固定探針  | 彈簧固定/管狀固定  | 
接頭類(lèi)型  | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/接線端子  | 
頻率支持  | DC-67GHZ  | 
針尖直徑  | 0.5微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米  | 
其他組件  | |
真空組件  | 分子泵組/機(jī)械泵/離子泵  | 
冷源組件  | 50L/100L液氮罐/液氦罐/制冷機(jī)  | 
可選附件:
超高溫配件;
顯示器;
轉(zhuǎn)接頭;
射頻測(cè)試配件;
屏蔽箱;
光學(xué)平臺(tái);
鍍金卡盤(pán);
光電測(cè)試配件;
高壓測(cè)試配件;
分子泵組;
激光系統(tǒng);
氣敏測(cè)試配件;
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